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多模态超分辨显微成像系统

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规格参数

多模态超分辨显微成像系统提供出色的STED超高分辨率和共聚焦成像品质，还可实现FED、NFOMM等点扫描成像方法；在探测路采用多通道并行探测，可进行airysplit成像、VIKMOM成像。可实现横向分辨率1/2到1/30波长的多色超分辨三维成像。

主要特点：

l 集成五种成像模式：共聚焦、FED、NFOMM、FLIM 、STED

l 成像分辨率极限：X,Y横向分辨率（XY）：~20nm，Z轴轴向分辨率（Z）：~50nm

l 超分辨成像软件：包括控制、检测、分析功能，支持多种成像模式

多模态软件.png

仪器性能描述		指标
光源		超连续白光光源（多至8通道可配置）声光调制器（AOTF）协调控制，实现各通道激光的高速独立调节激光强度调节范围为0.01%-100%，最小调节步进精度为0.01%
STED抑制光		775nm脉冲激光器，相较于连续光抑制，可减少对样品的光漂白效应通过AOM进行光强调节
共聚焦模式	空间分辨率	横向：1/2λ-1/3λ
	成像速度	4fps @ 512×512 pixels
	图像尺寸	8192 x 8192 pixels
STED模式	空间分辨率	横向：1/8λ-1/30λ
	成像速度	1fps @ 512×512 pixels
	图像尺寸	8192×8192 pixels，94μm×94μm @ 100X 物镜
FED模式	空间分辨率	横向：1/3λ-1/4λ
FED模式	图像尺寸	8192 x 8192 pixels
FLIM模式	探测器	7个APD，1个时间相关单光子计数系统（TCSPC）
FLIM模式	成像模式	实时显示平均寿命图像

联系电话：13588717112

销售邮箱：sales@nanoscopy.cn

其他：master@nanoscopy.cn