杭州柏纳光电有限公司

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时空探测超分辨荧光显微成像系统

 
时空探测超分辨荧光显微成像系统
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规格参数

       时空探测超分辨荧光显微成像系统主要特色在于基于双路19通道阵列探测器与多通道时间相关事件计数器实现时空并行探测的超分辨荧光显微成像。对所有波段激发光和损耗光都实现了自适应像差矫正，可实现厚样品细胞成像。可实现三色共聚焦荧光成像，三色图像扫描超分辨荧光寿命成像，相位图分析多光谱STED超分辨荧光成像，三色虚拟调制移频超分辨显微成像，并行探测3DFED超分辨显微成像，量子相关探测等。


主要特点：

  • 高成像分辨率：横向40nm，轴向100nm

  • 自适应光学技术：自适应像差矫正，可实现厚样品细胞成像

仪器性能描述

指标

横向分辨率

40 nm

轴向分辨率

100 nm

成像速度

2 fps @512*512

多光谱成像能力

（包括激发光通道，多通道成像能力）

激发光：485 nm/560 nm/640 nm，

双路19通道阵列探测，可实现3色多光谱成像

仪器特色

集成时空探测模块与SLM相位调制模块，可以同时实现荧光超分辨强度成像，荧光寿命成像；可实现量子相关探测；可实现相位图分析多光谱STED超分辨荧光成像。
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