杭州柏纳光电有限公司

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并行超衍射暗斑单分子定位显微成像系统

 
并行超衍射暗斑单分子定位显微成像系统
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规格参数

       并行超衍射暗斑单分子定位显微成像系统可实现亚十纳米快速成像及追踪系统在传统最小光通量定位技术基础上，融合并行探测技术，实现探测端虚拟偏摆，可快速编码荧光分子位置信息。基于亚纳米的防漂精度，可对细胞样品获取单纳米空间分辨率的精细结构。对单分子进行实时三维追踪。


主要特点：

  • 高分辨率：横向2-3nm，轴向5nm

  • 高定位精度：约1nm

  • 实时主动防漂

  • 单分子实时三维追踪



仪器性能描述

指标

横向分辨率

2-3nm

轴向分辨率

5nm

成像速度

400个定位点/min

多光谱成像能力

（包括激发光通道，多通道成像能力）

双色成像

仪器特色

三维超高分辨成像，三维单分子追踪，关联成像
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销售邮箱：sales@nanoscopy.cn
其他：master@nanoscopy.cn